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Leica DVM6的多种照明技术应用示例:带通用照明装置和多种反差方法的数码显微镜令检测与质控更高效
点击次数:1559 公布日期:2016-11-19  来源:本站 仅供参考,谢绝转载,否则责任自负

http://www.leica-microsystems.com/science-lab/digital-microscopy-with-versatile-illumination-and-various-contrast-methods-for-more-efficient-inspection-and-quality-control/

带通用照明装置和多种反差方法的数码显微镜令检测与质控更高效

带一体化环形光或同轴照明系统的 Leica DVM6 应用示例

 James DeRose 博士1  Georg Schlaffer1

 1徕卡显微系统

2015 年 6 月 3 日

当前最先进的数码显微镜,例如,Leica DVM6,运用了通用照明系统,该系统能够实现多种反差观察法,这对检测、质控和失效分析是非常有用的。这些反差观察法能够令用户更轻松、更快速地检测产品或部件外貌上的瑕疵或缺陷。本文将列举示例,探讨永利博娱乐手机版本化数码显微镜是如何令检测、质控和失效分析等工作更高效的。

使用 Leica DVM6 通过差别照明反差观察法,猎取镀锡铜引线框架修切沿口(横截面)的差别图像(简略插图):A) 全环形光;B) 起偏镜开启时的同轴光源;C) 浮雕反差法和起偏镜开启时的同轴光源;D) 起偏镜封闭时的同轴光源。上述图像展示了锡涂抹大局部铜外貌的差别反差情况,针孔破裂且能看到铜原料的底部除外。

使用 Leica DVM6 通过差别的照明反差观察法,记载金属浮雕铜版纸图像(简略插图):A) 全环形光;B) 1/4 环形光;C) 起偏镜开启时的同轴光源;D) 起偏镜封闭时的同轴光源。1/4 环形光(图像 B)和起偏镜开启时的同轴光源(图像 C)能够增强浮雕效果,而起偏镜封闭时的同轴光源(图像 D)则能够突出瑕疵或污染。

本文提供德语版本:Effizientere Inspektion und Qualitätskontrolle durch vielseitige Beleuchtungsvarianten in der Digitalmikroskopie

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在工业化生产中,加快检测和质控程序的速度是非常关键的。如果通过差别类型的照明和反差观察法增强产品的外观显示,即可轻松发现或检测出所关切的产品特征,从而缩短检测和实验耗时。数码显微镜领域的最新开展技术,已经使用照明反差观察法,引领检测和质控工作走上了有用、高效之路。

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